11
當前位置：島津企業管理（中國）有限公司>>表面分析>>掃描探針顯微鏡>> SPM-8100FM高分辨原子力顯微鏡
觀察生動的納米世界
使用調頻模式的全新型HR-SPM高分辨原子力顯微鏡，不僅可以在空氣及液體環境中實現更高分辨率，而且初次觀察到了固液界面的水化/溶劑化作用的液體分層。
HR-SPM: 高分辨原子力顯微鏡
HR-SPM特點
使用調頻模式
空氣和液體中的噪音降低到傳統模式的二十分之一
在空氣和液體環境中也能達到更高真空原子力顯微鏡的分辨率
現有的掃描探針顯微鏡 (scanning probe microscopes)和原子力顯微鏡(atomic force microscopes) 通常使用調幅模式(amplitude modulation).從原理上, 調頻模式(frequency modulation) 可以達到更高的分辨率。
| SPM | ： | 掃描探針顯微鏡 |
| AFM | ： | 原子力顯微鏡 |
| AM | ： | 調幅模式 |
| FM | ： | 調頻模式 |
與現有SPM/AFM的區別
液體環境中原子分辨率觀察
 | NaCl飽和溶液中觀察固體表面的原子排列。使用調幅模式的傳統原子力顯微鏡，圖像完全被噪音遮蓋（左圖），但在調頻模式下，原子排列清晰可見（右圖）。調頻模式實現了實實在在的原子級分辨率。 |
空氣中Pt催化劑顆粒的觀察1)
KPFM: 掃描開爾文顯微鏡 | TiO2基底上的Pt顆粒， 通過KPFM進行表面電勢的測定，TiO2基版上的Pt催化粒子可被清晰識別。同時可以觀察到數納米大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中，紅色區域是正電勢，藍色區域是負電勢。對于PKFM觀察，FM模式也大幅提高了分辨率。
注: KPFM需要特定的基底。 |
引用文獻：
Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).
